问：

微波介电性能与介电性能的主要区别是什么？现在想查阅关于氧化铝陶瓷介电性能（如介电强度，体积电阻率等因素）方面的文献，结果查到的都是微波介电性能的东西… …机械品质因数与频率的乘积(Q×f)，相对介电常数(εr)，谐振频率温度系数(τf)等有关的，他们之间有怎样的联系？

答： 

通常说的介电频谱，仅是低频下测的，比如 几十KHz 至 几个MHz，因为这个频段范围内可以考察到许多极化机构，如空间电荷、固有电矩、离子位移极化等等，这些信息是从介电常数、损耗正切随频率的变化得到的。这个介电频谱用电桥方法即可测量，可测得频率连续变化的谱图。

而微波介电性能，通常是为了考虑其应用到微波器件(如谐振器)，需在微波频段测量，高达几百MHz至数GHz，此时电桥方法就不行了，而需采用诸如谐振腔法等手段。这些微波测量手段只能测量谐振频率处的介电常数、损耗正切(即Q值倒数)，而谐振频率与样品的介电常数、物理尺寸有关，因此每个样品只能测一个频点，若需测数个频点就需准备多个不同尺寸的样品了。

在微波频段，低频下的极化机构统统不起作用，所以此时的介电常数较稳定，但损耗仍会有较大变化，因此你看到文献上给出的QXf，就是要告诉这个Q值是在哪个微波频点下测的。微波介质材料另一个重要指标，是温度系数，即在一定温度范围内，谐振频率的变化。

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