高校物理教学引入“四探针测量金属薄膜电阻率”
来源:Partulab | 作者:编辑部 | 发布时间: 2017-03-29 | 669 次浏览 | 分享到:

  随着科学技术的不断发展,薄膜材料的使用越来越广泛。在实际生活和生产过程中,经常需要测量金属薄膜材料的电阻率。“四端子法”往往用来测量金属丝的电阻率,若将该方法用于测量金属薄膜的电阻率,即采用四探针测量方法,不仅能够增加其实用性,还能进一步促进科学技术的发展。


  目前,国内各高校正在积极进行教育体制改革,而其改革的重点内容就是在教学中增加实际应用和教学实验,进而提高学生分析问题和解决问题的能力。因此,在高校物理实验中引入“四探针测量金属薄膜的电阻率”,既有利于加强高校物理实验的实用性,又有利于促进教育体制的改革,还有利于促进科学技术的发展。


  在高校物理教学实验中引入“四探针测量金属薄膜电阻率”,不仅能够增加其实用性,促进科学技术的发展;还有利于加强高校物理实验的实用性,促进教育体制的改革。陕西国防工业职业技术学院认为在高校物理实验中引入“四探针测量金属薄膜的电阻率”具有实用价值,值得推广到国内高校的物理教学实验中。


  佰力博研发的HRMS-800高温四探针测量系统可以实现常温、变温、恒温下薄膜方块电阻和薄层电阻率的测量。中科院成都光电所曾采购佰力博高温四探针测量系统用于高温条件下半导体或绝缘材料的导电性能研究。