电导率测试问题探讨
文章来源:BALAB | 作者:编辑部 | 发布时间:2017-03-29 | 554 次浏览 | 分享到:

问:

关于电导率的测试问题,假如我有个直径一厘米的陶瓷圆片,我在圆片两侧对称的涂上直径0.5厘米的Pt电极。电极两端接上万用表,测量该陶瓷圆片的高温电导率(即电导率随温度的变化)。之后用公式就算电导率=RS/L  (R是万用表测量的电阻,s是直径0.5厘米的面积,L片的厚度)。

这种做法正确吗?我疑惑,我一直认为这个做法不正确,但又解释不清楚?还是说这方法正确?

我知道可以用其它的4端法测量电导率,不知道和这啥区别?

答:

四探针法通常用来测量半导体的电阻率。四探针法测量电阻率有个非常大的优点,它不需要较准;有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。   

与四探针法相比,传统的二探针法更方便些,因为它只需要操作两个探针,但是处理二探针法得到的数据却很复杂。

通过采用四探针法取代二探针法,尽管电流所走的路径是一样的,但由于消除掉了寄生压降,使得测量变得精确了。四探针法在Lord Kelvin使用之后,变得十分普及,命名为四探针法。

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