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材料磁电性能测量系统—定制
来源:Partulab | 作者:编辑部 | 发布时间: 2017-03-27 | 765 次浏览 | 分享到:
  FEMS系列铁电测量系统主要用于高低温、真空条件下测量材料的铁电性能，可以测量和显示铁电材料的电滞回线，饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流、疲劳、保持、I-V和开关特性等参数，能够较全面准确地测量铁电薄膜的铁电性能。可广泛应用于薄膜、厚膜和块状陶瓷、铁电器件及存储器等领域的研究。

 研究与应用：

 铁电尺寸效应的研究

 铁电液晶和铁电聚合物的基础和应用研究

 集成铁电体的研究

 新型磁电器件应用

 自旋电子器件应用

 高性能信息存储与处理应用

 FEMS-2156技术参数：

 测量温度：RT-600℃；

 升温斜率：1-10℃/min；

 控温精度：±1℃；

 测量环境：高温、真空；

 测量夹具：块体、薄膜；

 样品尺寸：直径<15mm/30mm；

 搭配RT66或TF2000铁电分析仪；

 FEMS-2158技术参数：

 测量温度：-160℃-400℃；

 升温斜率：1-5℃/min；

 控温精度：±1℃；

 测量环境：高低温、真空；

 测量夹具：块体、薄膜；

 样品尺寸：直径<15mm/30mm；

 搭配RT66或TF2000铁电分析仪；

 FEMS-2160高温铁电测量系统

 FEMS-2160技术参数：

 测量温度：RT-600℃；

 升温斜率：1-10℃/min；

 控温精度：±1℃；

 测量环境：高温、真空；

 测量夹具：块体、薄膜；

 样品尺寸：直径<15mm/30mm；

 无需搭配铁电分析仪；

 FEMS-2180技术参数：

 测量温度：-160℃-400℃；

 升温斜率：1-5℃/min；

 控温精度：±1℃；

 测量环境：高低温、真空；

 测量夹具：块体、薄膜；

 样品尺寸：直径<15mm/30mm；

 无需搭配铁电分析仪；